Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Metal Insert Fittings Utilizing a Copper Crimp Ring for SDR9 Cross-linked Polyethylene (PEX) Tubing
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.4.1999
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.2003
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2008
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2013
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2019
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 3/2/2021).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1997
Vybraný formát:Standard Guide for Weight Control Technical Requirements for Surface Ships (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1997
Vybraný formát:Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Standard Test Method for Counting Preferentially Etched or Decorated Surface Defects in Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 82060 až 82070 z celkom 91234 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-04-22 (Počet položiek: 2 274 512)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.