Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Measuring Boron Contamination in Heavily Doped N-Type Silicon Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Sheet Resistance Uniformity Evaluation by In-Line Four-Point Probe with the Dual-Configuration Procedure (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 5.12.1997
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1995
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.1995
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining the Yield of Wide Inked Computer Ribbons (Withdrawn 2015)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2008
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Standard Test Method for Comparing Printer or Copier Cartridges (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Standard Guide for Qualification, Selection, Training, Utilization, and Supervision of Security Screening Personnel (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1994
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 81260 až 81270 z celkom 91765 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-06-30 (Počet položiek: 2 285 193)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.