(65.80 EUR)
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Normy ASTM - Americké technické normy - strana 8121
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
€
Zoradiť podľa:
ASTM F1616-95(2016)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Guide for Scope of Performance of First Responders Who Practice in the Wilderness or Delayed or Prolonged Transport Settings (Withdrawn 2025)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2016
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1617-98
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1617-98(2002)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measuring Surface Sodium, Aluminum, Potassium, and Iron on Silicon and EPI Substrates by Secondary Ion Mass Spectrometry (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.1998
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1618-02
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.5.2002
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1618-96
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Practice for Determination of Uniformity of Thin Films on Silicon Wafers
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1619-95(2000)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1619-95(2000)e1
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.9.1995
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1620-96
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Practice for Calibrating a Scanning Surface Inspection System Using Monodisperse Polystyrene Latex Spheres Deposited on Polished or Epitaxial Wafer Surfaces (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1621-96
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Standard Practice for Determining the Positional Accuracy Capabilities of a Scanning Surface Inspection System (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
ASTM F1622-95(2000)
Historická
Zobraziť všetky technické informácie
Test Method for Measuring the Torsional Properties of Metallic Bone Screws (Withdrawn 2001)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2000
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Zobrazený záznam od 81200 až 81210 z celkom 91273 záznamov.
Potrebujete pomoc?
