Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Practice for Emergency Medical Dispatch
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2006
Vybraný formát:
(77.10 EUR)Standard Practice for Emergency Medical Dispatch
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2014
Vybraný formát:
(77.10 EUR)Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1989
Vybraný formát:
(69.10 EUR)Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:
(69.10 EUR)Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996
Vybraný formát:
(69.10 EUR)Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)
Vybraný formát:Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1989
Vybraný formát:
(77.10 EUR)Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:
(77.10 EUR)Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996
Vybraný formát:
(77.10 EUR)Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:
(69.10 EUR)Zobrazený záznam od 80800 až 80810 z celkom 92676 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-10-27 (Počet položiek: 2 208 060)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.