Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Oxygen Concentrators for Domiciliary Use (Withdrawn 2014)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2005
Vybraný formát:Standard Guide for Selection of Security Control Systems (Withdrawn 2012)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.9.2003
Vybraný formát:Standard Guide for Selection of Operational Security Control Systems
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.1999
Vybraný formát:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications (Withdrawn 2024)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.9.2020
Vybraný formát:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.1.1999
Vybraný formát:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2005
Vybraný formát:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2010
Vybraný formát:Standard Specification for Iron-Nickel-Cobalt Alloys for Metal-to-Ceramic Sealing Applications
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.7.2015
Vybraný formát:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2011
Vybraný formát:Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.3.2018
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 80580 až 80590 z celkom 91334 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-04 (Počet položiek: 2 275 493)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.