Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1996
Vybraný formát:Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1996
Vybraný formát:Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2014
Vybraný formát:Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.11.1995
Vybraný formát:Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
NEPLATNÁ vydaná dňa 15.6.2008
Vybraný formát:Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.6.2011
Vybraný formát:Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.12.2019
Vybraný formát:Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.1999
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 79710 až 79720 z celkom 91354 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2026-05-08 (Počet položiek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.