ASTM - Americké technické normy - strana 7672

Normy ASTM - Americké technické normy - strana 7672

ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.

Zobrazenie ceny: bez DPH
Zobrazovaná mena:
Zoradiť podľa:

Upresniť výber pre "Normy ASTM - strana 7672" podľa:    


ASTM F139-03 Historická

Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2003

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.10


SKLADOM
ASTM F139-08 Historická

Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2008

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
67.10


SKLADOM
ASTM F139-12 Historická

Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2012

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F1390-02 Historická

Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F1390-97 Historická

Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F1391-93(2000) Historická

Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F1392-00 Historická

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.60


SKLADOM
ASTM F1392-02 Historická

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density Profiles in Silicon Wafers by Capacitance-Voltage Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
83.60


SKLADOM
ASTM F1393-02 Historická

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe (Withdrawn 2003)

NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM
ASTM F1393-92(1997) Historická

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe

NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.1992

Vybraný formát:

Zobraziť všetky technické informácie
76.30


SKLADOM

Zobrazený záznam od 76710 až 76720 z celkom 87127 záznamov.


Potrebujete pomoc?


Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.