Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM - Společnost ASTM International je jednou z největších nezávislých organizací pro rozvoj norem ve světě - spolehlivý zdroj technických norem pro materiály, výrobky, systémy a služby. Normy společnosti ASTM International jsou známé svojí vysokou technickou kvalitou a aktuálností v rámci trhu, a proto hrají důležitou roli v informační infrastruktuře, která řídí projekci, výrobu a obchod v globální ekonomice. ASTM vydává normy zabývající se kovy, hořlavostí, chemickými výrobky, mazivy, fosilními palivy, textiliemi, barvami, pryží, potrubím, forenzními vědami, elektronikou, energetikou, lékařskými přístroji a bezpočtem dalších témat.
Standard Specification for Performance of Piping and Tubing Mechanically Attached Fittings
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.5.2012
Vybraný formát:Standard Test Method for Generation Lifetime and Generation Velocity of Silicon Material by Capacitance-Time Measurements of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Capacitors (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.1.2000
Vybraný formát:Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000
Vybraný formát:Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000
Vybraný formát:Standard Specification for Wrought 18 Chromium-14 Nickel-2.5 Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2003
Vybraný formát:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.2.2008
Vybraný formát:Standard Specification for Wrought 18Chromium-14Nickel-2.5Molybdenum Stainless Steel Sheet and Strip for Surgical Implants (UNS S31673)
NEPLATNÁ vydaná dňa 1.10.2012
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.12.2002
Vybraný formát:Standard Test Method for Measuring Warp on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.1997
Vybraný formát:Standard Test Method for Substitutional Atomic Carbon Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 2003)
NEPLATNÁ vydaná dňa 10.6.2000
Vybraný formát:Zobrazený záznam od 75660 až 75670 z celkom 85808 záznamov.
Posledná aktualizácia: 2024-05-16 (Počet položiek: 2 902 054)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.