Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2020.)
NORMA vydaná dňa 1.10.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-41:2020
Dátum vydania normy: 1.10.2020
Kód tovaru: NS-1122278
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
