Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN IEC 60749-37:2022
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN IEC 60749-37:2022
Dátum vydania normy: 1.1.2023
Kód tovaru: NS-1122276
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
