Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 62374:2007
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 62374:2007
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2013
Kód tovaru: NS-1120950
Počet strán: 25
Približná hmotnosť: 75 g (0.17 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
