Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 62047-8:2011
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (Endorsed by AENOR in September of 2011.)
NORMA vydaná dňa 1.9.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 62047-8:2011
Dátum vydania normy: 1.9.2011
Kód tovaru: NS-1120558
Počet strán: 21
Približná hmotnosť: 63 g (0.14 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
