Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing (IEC 62047-3:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2007
Označenie normy: UNE-EN 62047-3:2006
Dátum vydania normy: 1.1.2007
Kód tovaru: NS-1120553
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-06-12 (Počet položiek: 2 281 969)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.