Norma UNE-EN 62047-17:2015 1.8.2015 náhľad

UNE-EN 62047-17:2015

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)



NORMA vydaná dňa 1.8.2015


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena73.50 bez DPH
73.50

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 62047-17:2015
Dátum vydania normy: 1.8.2015
Kód tovaru: NS-1120544
Počet strán: 31
Približná hmotnosť: 93 g (0.21 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE

Kategórie - podobné normy:

Ostatní polovodičová zařízení

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.