Norma UNE-EN 60749-44:2016 1.12.2016 náhľad

UNE-EN 60749-44:2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices (Endorsed by AENOR in December of 2016.)



NORMA vydaná dňa 1.12.2016


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena67.60 bez DPH
67.60

Informácie o norme:

Označenie normy: UNE-EN 60749-44:2016
Dátum vydania normy: 1.12.2016
Kód tovaru: NS-1118074
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE

Kategórie - podobné normy:

Polovodičová zařízení obecně

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.