Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in October of 2017.)
NORMA vydaná dňa 10.10.2024
Označenie normy: UNE-EN 60749-43:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.10.2024
Kód tovaru: NS-1203590
Počet strán: 46
Približná hmotnosť: 138 g (0.30 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-01-14 (Počet položiek: 2 254 595)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.