Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (Endorsed by AENOR in November of 2011.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2011
Označenie normy: UNE-EN 60749-40:2011
Dátum vydania normy: 1.11.2011
Kód tovaru: NS-1118071
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-09-04 (Počet položiek: 2 300 131)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.