Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-4:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Automaticky preložený názov:
Polovodičových prvkov - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 4: Vlhké teplo, v rovnovážnom stave, Highly Accelerated stress test (HAST).
NORMA vydaná dňa 30.5.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-4:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Kód tovaru: NS-561012
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
