Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-38:2008
Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
NORMA vydaná dňa 1.9.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-38:2008
Dátum vydania normy: 1.9.2008
Kód tovaru: NS-1118068
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
