Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-37:2008
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by AENOR in July of 2008.)
NORMA vydaná dňa 17.11.2025
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-37:2008
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 17.11.2025
Kód tovaru: NS-1249602
Počet strán: 23
Približná hmotnosť: 69 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
