Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-3:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Automaticky preložený názov:
Polovodičových prvkov - Mechanické a klimatické skúšky - Časť 3: vonkajšej vizuálnej Skúška.
NORMA vydaná dňa 30.5.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-3:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 30.5.2003
Kód tovaru: NS-561003
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
