Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-29:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test
NORMA vydaná dňa 9.7.2004
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-29:2004
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 9.7.2004
Kód tovaru: NS-1118062
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Doporučujeme:
