Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
UNE-EN 60749-16:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automaticky preložený názov:
Polovodičových prvkov. Mechanické a klimatické skúšky. Časť 16: Částečka IMPACT detekcie šumu (PIND)
NORMA vydaná dňa 21.11.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: UNE-EN 60749-16:2003
Dátum vydania normy: 21.11.2003
Kód tovaru: NS-560992
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
