Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
NORMA vydaná dňa 1.11.2025
Označenie normy: UNE-EN 15991:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2025
Kód tovaru: NS-1249556
Počet strán: 27
Približná hmotnosť: 81 g (0.18 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Posledná aktualizácia: 2026-08-28 (Počet položiek: 2 298 625)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.