Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV) (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
NORMA vydaná dňa 1.1.2016
Označenie normy: UNE-EN 15991:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.2016
Kód tovaru: NS-1108328
Počet strán: 29
Približná hmotnosť: 87 g (0.19 libier)
Krajina: Španielska technická norma
Kategória: Technické normy UNE
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-11-02 (Počet položiek: 2 209 038)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.