Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ÖNORM EN ISO 9220
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022)
NORMA vydaná dňa 1.6.2022
Informácie o norme:
Označenie normy: ÖNORM EN ISO 9220
Dátum vydania normy: 1.6.2022
Kód tovaru: NS-1063896
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ÖNORM EN ISO 9220 :
Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer und anderer anorganischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Das Verfahren ist für Schichtdicken bis zu mehreren Millimetern anwendbar, allerdings ist es für solch dicke Schichten üblicherweise praktischer, ein Lichtmikroskop (siehe ISO 1463) zu verwenden. Die untere Dickengrenze hängt von der erreichten Messunsicherheit ab.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
