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ÖNORM S5271
Planare Szintigraphie und Einzelphotonen-Emissions-Computertomographie - Konstanzprüfungen apparativer Qualitätsmerkmale
NORMA vydaná dňa 15.1.2012
Informácie o norme:
Označenie normy: ÖNORM S5271
Dátum vydania normy: 15.1.2012
Kód tovaru: NS-751203
Počet strán: 17
Približná hmotnosť: 51 g (0.11 libier)
Krajina: Rakúska technická norma
Kategória: Technické normy ÖNORM
Kategórie - podobné normy:
Radiografická zařízení
Aplikace informační technologie ve zdravotnictví
Anotácia textu normy ÖNORM S5271 :
Diese ÖNORM ist anzuwenden für Einkristall-Gammakameras (einschließlich Gammakameras mit mehreren Messköpfen), die für die planare Szintigraphie und/oder für die Einzelphotonen-Emissions-Computer¬tomo¬graphie (SPECT, single photon emission computed tomography) verwendet werden. Diese ÖNORM beinhaltet Anforderungen an die zu verwendenden Prüfvorrichtungen und Computerprogramme sowie Richtlinien zur Durchführung der Konstanzprüfung. Zweck dieser ÖNORM ist es, einfache Verfahren für die Konstanzprüfung zu geben, die durch den Anwender mit möglichst einfachen Hilfsmitteln durchgeführt werden können. Sie hat weiters den Zweck, die für die Konstanzprüfung notwendigen Verfahren zu standardisieren. Voraussetzung für die Konstanzprüfungen sind Referenzmessungen, die im Anschluss an eine Abnahme- oder Teilabnahmeprüfung durchgeführt werden müssen. Referenzmessungen und Messungen zur Konstanzprüfung sind unter gleichen Bedingungen durchzuführen und müssen dokumentiert werden.
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