Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 29301:2023-ed.3.0
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
NORMA vydaná dňa 16.10.2023
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 29301:2023-ed.3.0
Dátum vydania normy: 16.10.2023
Kód tovaru: NS-1156139
Počet strán: 44
Približná hmotnosť: 132 g (0.29 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 29301:2023-ed.3.0 :
Description / Abstract: This document specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon. This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar. This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
