Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Procedures for determining the point resolution of high-resolution transmission electron microscope
NORMA vydaná dňa 9.6.2026
Označenie normy: ISO 25387:2026
Dátum vydania normy: 9.6.2026
Kód tovaru: NS-1273932
Počet strán: 52
Približná hmotnosť: 156 g (0.34 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Description / Abstract: This document specifies a procedure for determining the point resolution, called Scherzer resolution, of high-resolution transmission electron microscopes (HREM), which can visualize sample structure with sub-nanometre fineness. This document also specifies the measurement procedure of the real spherical aberration coefficient of the objective lens used. The procedure specified in this document for measuring the spherical aberration coefficient uses the dark rings that appear in the fast Fourier transform (FFT) pattern of HREM images of amorphous thin films, in which, at least three dark rings need to be observable near the Scherzer focus. Therefore, this document is applicable to HRTEMs equipped with a cold field emission gun (CFEG), Schottky emission gun (SEG) or thermal field emission gun (TFEG), or HREMs equipped with a thermionic emission gun (TEG) in which three or more dark rings can be clearly observed in the FFT pattern. This document does not treat the information limits, lattice resolution and STEM resolution. In addition, this document is not applicable to Cs-corrected TEM.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-06-21 (Počet položiek: 2 283 476)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.