Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Determination of modulation period of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods
NORMA vydaná dňa 22.7.2022
Označenie normy: ISO 24688:2022
Dátum vydania normy: 22.7.2022
Kód tovaru: NS-1069283
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Description / Abstract: This document specifies the substrate conditions and testing of the modulation period (including the principles for low-angle X-ray methods, the requirements of the coatings, the requirements for X-ray measuring apparatus, the calibration of apparatus and samples, and the testing conditions and calculation process) of nano-multilayer coatings by low-angle X-ray methods including X-ray reflectivity (XRR) and glancing incident X-ray diffraction (GIXRD).
Posledná aktualizácia: 2026-05-08 (Počet položiek: 2 276 678)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.