Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 23812:2009
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
Automaticky preložený názov:
Surface chemická analýza - Sekundárny-ion hmotnostná spektrometria - metóda pre kalibráciu hĺbky kremíka pomocou viacerých delta-vrstvy referenčné materiály
NORMA vydaná dňa 8.4.2009
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 23812:2009
Dátum vydania normy: 8.4.2009
Kód tovaru: NS-429743
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
