Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 22493:2014-ed.2.0
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
Automaticky preložený názov:
Analýza Microbeam - Snímacie elektrónové mikroskopia - slovník
NORMA vydaná dňa 9.4.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 22493:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 9.4.2014
Kód tovaru: NS-429363
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 22493:2014-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate. ISO 22493:2014is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of ISO 22493:2014 are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
