Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale
Automaticky preložený názov:
Chemická analýza Surface - X-ray fotoelektronových a Auger elektrónová spektrometre - Linearita intenzity stupnice
NORMA vydaná dňa 15.6.2004
Označenie normy: ISO 21270:2004
Dátum vydania normy: 15.6.2004
Kód tovaru: NS-428966
Počet strán: 13
Približná hmotnosť: 39 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Description / Abstract: ISO 21270:2004 specifies two methods for determining the maximum count rate for an acceptable limit of divergence from linearity of the intensity scale of Auger and X-ray photoelectron spectrometers. It also includes methods to correct for intensity non-linearities so that a higher maximum count rate can be employed for those spectrometers for which the relevant correction equations have been shown to be valid.
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-06-16 (Počet položiek: 2 283 267)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.