Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 20341:2003
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Automaticky preložený názov:
Surface chemická analýza - Sekundárny-ion hmotnostná spektrometria - metóda pre odhad parametrov rozlíšenie hĺbky s viacerými delta-vrstvy referenčných materiálov
NORMA vydaná dňa 24.7.2003
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 20341:2003
Dátum vydania normy: 24.7.2003
Kód tovaru: NS-428644
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 20341:2003 :
Description / Abstract: ISO 20341:2003 specifies procedures for estimating three depth resolution parameters, viz the leading-edge decay length, the trailing-edge decay length and the Gaussian broadening, in SIMS depth profiling using multiple delta-layer reference materials. It is not applicable to delta-layers where the chemical and physical state of the near-surface region, modified by the incident primary ions, is not in the steady state.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
