Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 19830:2015
Surface chemical analysis — Electron spectroscopies — Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemická analýza - Electron spektroskopia - Minimálne požiadavky na podávanie správ pre vrcholových montáž v X - ray fotoelektronové spektroskopia
NORMA vydaná dňa 5.11.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 19830:2015
Dátum vydania normy: 5.11.2015
Kód tovaru: NS-620397
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 19830:2015 :
Description / Abstract: ISO 19830:2015 Standard is to define how peak fitting and the results of peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy shall be reported. It is applicable to the fitting of a single spectrum or to a set of related spectra, as might be acquired, for example, during a depth profile measurement. This International Standard provides a list of those parameters which shall be reported if either reproducible peak fitting is to be achieved or a number of spectra are to be fitted and the fitted spectra compared. This International Standard does not provide instructions for peak fitting nor the procedures which should be adopted.
Doporučujeme:
