Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 19668:2017
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
NORMA vydaná dňa 14.8.2017
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 19668:2017
Dátum vydania normy: 14.8.2017
Kód tovaru: NS-693606
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 19668:2017 :
Description / Abstract: ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.
Doporučujeme:
