Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 18114:2021-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
NORMA vydaná dňa 11.5.2021
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 18114:2021-ed.2.0
Dátum vydania normy: 11.5.2021
Kód tovaru: NS-1024260
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 18114:2021-ed.2.0 :
Description / Abstract: This document specifies a method of determining relative sensitivity factors (RSFs) for secondary-ion mass spectrometry (SIMS) from ion-implanted reference materials. The method is applicable to specimens in which the matrix is of uniform chemical composition, and in which the peak concentration of the implanted species does not exceed one atomic percent.
Doporučujeme:
