Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 17560:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon
Automaticky preložený názov:
Surface chemická analýza - Sekundárny-ion hmotnostná spektrometria - Metóda hĺbkové profilovanie bóru v kremíka
NORMA vydaná dňa 10.9.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 17560:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 10.9.2014
Kód tovaru: NS-427737
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
