Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 17470:2014-ed.2.0
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Automaticky preložený názov:
Microbeam analýza - sonda Electron microanalysis - Smernica pre analýzu kvalitatívneho hľadiska vlnovej dĺžky disperzné röntgenové spektrometria
NORMA vydaná dňa 6.1.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 17470:2014-ed.2.0
Dátum vydania normy: 6.1.2014
Kód tovaru: NS-427680
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
