Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 17331:2004/Amd1:2010
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemická analýza - Chemické metódy pre zber prvkov z povrchu kremíkového plátku -pracovné referenčné materiály a ich odhodlanie tým , totálny odraz - X - ray fluorescencie ( TXRF ) spektroskopia
NORMA vydaná dňa 5.7.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 17331:2004/Amd1:2010
Poznámka: Zmena
Dátum vydania normy: 5.7.2010
Kód tovaru: NS-427603
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Táto zmena (oprava) patrí k tejto norme:
ISO 17331:2004
Zobraziť všetky technické informácie
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
(Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l´analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF))
Norma vydaná dňa 18.5.2004
Vybraný formát:Zobraziť všetky technické informácie
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
