Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
NORMA vydaná dňa 26.5.2025
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 17297:2025
Dátum vydania normy: 26.5.2025
Kód tovaru: NS-1222521
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Chemická technologie (názvosloví)
Fyzikálně chemické analytické metody
Anotácia textu normy ISO 17297:2025 :
Description / Abstract: This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
