Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 16700:2016-ed.2.0
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
NORMA vydaná dňa 18.7.2016
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 16700:2016-ed.2.0
Dátum vydania normy: 18.7.2016
Kód tovaru: NS-645558
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 16700:2016-ed.2.0 :
Description / Abstract: ISO 16700:2016 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. It does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.
Doporučujeme:
