Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 16413:2020-ed.2.0
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry — Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
NORMA vydaná dňa 14.8.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 16413:2020-ed.2.0
Dátum vydania normy: 14.8.2020
Kód tovaru: NS-1001977
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Doporučujeme:
