Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Automaticky preložený názov:
Surface chemická analýza - Sekundárny-ion hmotnostná spektrometria - Stanovenie bóru atómovej koncentrácie v kremíku pomocou jednotne dopovaných materiálov
NORMA vydaná dňa 9.7.2010
Označenie normy: ISO 14237:2010-ed.2.0
Dátum vydania normy: 9.7.2010
Kód tovaru: NS-425290
Počet strán: 19
Približná hmotnosť: 57 g (0.13 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Posledná aktualizácia: 2026-02-01 (Počet položiek: 2 258 192)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.