Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ISO 13083:2015
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemická analýza - mikroskopia skenovací sondou - Normy týkajúce sa vymedzenia a kalibráciu priestorovým rozlíšením elektrických mikroskopov Snímacie sondou ( ESPMs ) , ako SSRM a SCM pre 2D - prímesi zobrazovanie a iné účely
NORMA vydaná dňa 20.8.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: ISO 13083:2015
Dátum vydania normy: 20.8.2015
Kód tovaru: NS-613938
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy ISO
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ISO 13083:2015 :
Description / Abstract: ISO 13083:2015 describes a method for measuring the spatial (lateral) resolution of scanning capacitance microscopes (SCMs) or scanning spreading resistance microscopes (SSRMs), which are widely used in imaging the distribution of carriers and other electrical properties in semiconductor devices. The method involves the use of a sharp-edged artefact.
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
