Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE/IEC 63003-2015
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Automaticky preložený názov:
IEC / IEEE Medzinárodný štandard pre spoločnú testovacie rozhranie pin mape konfiguráciu s vysokou hustotou, jednovrstvových požiadavky elektronika skúšok využívajúcich IEEE Std 1505 (TM)
NORMA vydaná dňa 30.12.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE/IEC 63003-2015
Dátum vydania normy: 30.12.2015
Kód tovaru: NS-623857
Počet strán: 175
Približná hmotnosť: 556 g (1.23 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE/IEC 63003-2015 :
Adoption Standard - Active.
This standard represents an extension to the IEEE 1505 receiver fixture interface (RFI) standard specification. Particular emphasis is placed on defining within the IEEE 1505 RFI standard a more specific set of performance requirements that employ a common scalable: (a) pin map configuration; (b) specific connector modules; (c) respective contacts; (d) recommended switching implementation; and (e) legacy automatic test equipment (ATE) transitional devices. This is intentionally done to standardize the footprint and assure mechanical and electrical interoperability between past and future automatic test systems (ATS).
ISBN: 978-1-5044-0580-5, 978-1-5044-0603-1
Number of Pages: 175
Product Code: STD20742, STDPD20742
Keywords: ATE, ATS, fixture, ICD, IEEE 1505.1(TM), interface, ITA, mass termination, receiver, scalable, TPS, UUT
Category: Design Automation|Test Instrumentation and Techniques
Doporučujeme:
