Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE/IEC 62860-1-2013
IEC/IEEE Test methods for the characterization of organic transistor-based ring oscillators
Automaticky preložený názov:
IEC / IEEE Skúšobné metódy pre charakterizáciu organických tranzistorový ring oscilátory
NORMA vydaná dňa 30.7.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE/IEC 62860-1-2013
Dátum vydania normy: 30.7.2013
Kód tovaru: NS-415167
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE/IEC 62860-1-2013 :
Adoption Standard - Active.
Recommended methods and standardized reporting practices for electrical
characterization of printed and organic ring oscillators are covered. Due to the nature of printed
and organic circuits, significant measurement errors can be introduced if the electrical
characterization design-of-experiment is not properly addressed. This standard describes the
most common sources of measurement error, particularly for high-impedance electrical
measurements commonly required for printed and organic ring oscillators. This standard also
gives recommended practices in order to minimize and/or characterize the effect of measurement
artifacts and other sources of error encountered while measuring printed and organic ring
oscillators.
ISBN: 978-0-7381-8687-0, 978-0-7381-8688-7
Number of Pages: 26
Product Code: STD98418, STDPD98418
Keywords: electrical characterization, high-impedance printing, organic transistor, printed electronics, ring oscillator
Category: Architecture/Parallel and High-Performance Computing
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
