Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE/IEC 62527-2007
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450.2(TM)-2002): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for DC Level Specification
Automaticky preložený názov:
IEC 62527 Ed. 1 (IEEE Std 1450,2 (TM) -2002): Štandardné pre rozšírenie na štandardné testovacie rozhranie jazyka (Stil) na úroveň DC Špecifikácia
NORMA vydaná dňa 9.12.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE/IEC 62527-2007
Dátum vydania normy: 9.12.2007
Kód tovaru: NS-415152
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE/IEC 62527-2007 :
New IEEE Standard - Active.
This standard extends IEEE Std 1450-1999 (STIL) to support the definition of DC levels. STIL language constructs are defined to specify the DC conditions necessary to execute digital vectors on automated test equipment (ATE). STIL language extensions include structures for: (a) specifying the DC conditions for a device under test; (b) specifying DC conditions either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector; (c) specifying alternate DC levels; and (d) selecting DC levels and alternate levels within a period, much the same as timed format events.
ISBN: 9-7807-3815-7238
Number of Pages: 44
Product Code: STDSU95742
Keywords: : automated test equipment (ATE), comparator, DC levels, device power supply (DPS), device under test (DUT), driver, driver termination, dynamic load, functional test, parametric measurement unit (PMU), power sequence, slew rate, voltage clamp
Category: Test Instrumentation and Techniques
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
