Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE/IEC 62526-2007
IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments
NORMA vydaná dňa 9.12.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE/IEC 62526-2007
Dátum vydania normy: 9.12.2007
Kód tovaru: NS-945120
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE/IEC 62526-2007 :
New IEEE Standard - Active.
Standard Test Interface Language (STIL) provides an interface between digital test
generation tools and test equipment. Extensions to the test interface language (contained in this
standard) are defined that (1) facilitate the use of the language in the design environment and
(2) facilitate the use of the language for large designs encompassing subdesigns with reusable
patterns.
ISBN: 9-7807-3815-7221
Number of Pages: 128
Product Code: STD95741
Keywords: advanced scan architecture, core, environment, fail feedback, lockstep, parallel
patterns, parameterized data, pattern tiling, pragma, signal variable, system on chip (SoC), test
protocol
Category: Test Instrumentation and Techniques
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
