Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
IEEE/IEC 62525-2007
IEC/IEEE International Standard - Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
NORMA vydaná dňa 9.12.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: IEEE/IEC 62525-2007
Dátum vydania normy: 9.12.2007
Kód tovaru: NS-675379
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kategória: Technické normy IEEE
Anotácia textu normy IEEE/IEC 62525-2007 :
New IEEE Standard - Active.
Standard Test Interface Language (STIL) provides an interface between digital test generation
tools and test equipment. A test description language is defined that: (a) facilitates the transfer
of digital test vector data from CAE to ATE environments; (b) specifies pattern, format, and
timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a DUT; and (c) supports
the volume of test vector data generated from structured tests.
ISBN: 2-8318-9337-2
Number of Pages: 143
Product Code: STD95740
Keywords: automatic test pattern generator (ATPG), built-in self-test (BIST), computer-aided engineering
(CAE), cyclize, device under test (DUT), digital test vectors, event, functional vectors, pattern, scan vectors, signal, structural vectors, timed event, waveform, waveshape
Category: Test Technology
Odporúčame:
EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
